OmniFluo “卓谱”系统将PL和PLE两种荧光测试需求完美结合，采用模块化设计，可以根据需要进行系统架构的灵活调整，实现荧光光谱测量、激发光谱测量、常温及低温测量等功能。

荧光光谱测试 部分文献清单

荧光光谱测试    解决方案

荧光光谱测试    技术文章

性能特点

●  模块化的结构设计——各功能模块完美结合，根据需要进行选择，后续升级方便
●  合理的空间布局——在满足功能需求的前提下尽可能占用更少的空间，且方便测量操作
●  超宽光谱范围*——200nm-2500nm
●  独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性
●  宽波段、高输出功率光源——150W、500W氙灯光源可选
●  多种激光器波长可选*——266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等
●  量子产率测量功能可选**——扩展选项
●  电致发光(EL)功能可选**——扩展选项
●  超低温测量附件可选**——可提供≤10K的超低温测量
*需根据实际需要进行配置确定；
**选配项，请详细咨询。

参数规格表(*)

●系统组成及系统扩展

OmniFluo “卓谱”系列稳态荧光光谱系统主要系统构成 1.激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长可调单色光源或单波长激光器 2.光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器 3.样品室部分：固体粉末样品台、超低温样品台等可选

OmniFluo “卓谱”系统可以根据用户的实际需求，进行灵活的系统构架，并且保留了后续扩展的良好接口，非常有利于教学、科研工作的有序开展，详细配置请与我公司销售工程师联络。

● OmniFluo “卓谱”系列——基本型
      基本型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和荧光激发光谱测量，其系统架构与荧光分光光度计基本一致，却有效的增加了近红外升级功能，扩展了测量范围。

● OmniFluo “卓谱”系列——PL扩展型
   PL扩展型OmniFluo “卓谱”系统，PL/PLE的整合测量，有效解决了氙灯光源在某些实验中的激发光能量不足的问题；同时还方便用户增加超低温样品制冷机，非常方便于稀土发光材料的发光性能研究。

● OmniFluo “卓谱”系列——TRA扩展型
   TRA扩展型OmniFluo “卓谱”系统，主要实现荧光光谱和透射、反射/吸收（TRA）光谱测量功能，可用于透光型材料的多种光谱表征。
 

● OmniFluo-533P型稳态荧光光谱系统主要技术参数（基本型推荐）

系统指标与功能

●荧光光谱范围：300-870nm ●激发光谱范围：200-800nm ●样品形态：固态（片状、粉末）、液态 ●荧光光谱和激发光谱测量功能 ●水拉曼信噪比：>1000:1 ●预留CCD接口 ●可升级扩展至NIR波段测量（~2600nm） ●可升级量子产率测量功能 ●可升级至超低温（10K）测量功能

详细配置及规格参数

应用举例
某用户提供的稀土材料（Ca₂YSbO₆）（测试设备：OmniFluo-533P稳态荧光光谱系统）