荧光寿命测量
荧光寿命通常在百ps~us 量级，DSC900 使用时间相关单光子计数（TCSPC）作为荧光寿命的测试手段，是*为成熟、准确的一种方法。
灵活、宽广的时间轴
DCS900PC 以16ps 的*高时间分辨率，配合多达65535 采集通道，可以在不损失时间分辨率的前提下轻松覆盖从0-1.05us 的时域测试范围；同时，在*大门宽33.5us 条件下，测试时域更是可以达到2.2s。从而覆盖了从荧光、磷光、余辉、甚至稳态全时域测试。为实验者提供了极为方便、灵活的时域测试条件，满足绝大部分瞬态测试需求。
DCS900PC 时间相关单光子计数系统特性
■ *高时间分辨率16ps
■ 瞬时饱和计数率100 Mcps
■ 死时间小于10 ns
■ USB 3.0
■ 支持稳态测试
应用
■ PL荧光光谱测试
■ 荧光寿命及相关测试
DCS900PC 时间相关单光子计数系统参数
13810146393
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