反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统
Waynelabs3 的标准反射/透射光谱测试系统，采用“所见即所得”的测量方式，即反射与透射测量方式均能在直接观测样品成像时看到测量光斑，成像与测量光路通过电机切换。标准系统可满足紫外/可见/近红外波段的测试需求，对于特殊波段可进行优化设计及光路定制。
基本功能
· 白光反射谱及Mapping成像；
· 白光透射谱及Mapping成像；
· 电动变偏振采谱；（可选）
· 适配低温台、电学样品台等；（可选）
· 共聚焦方式和科勒照明方式；（可选）
· 透射光谱无色散设计；（可选）
· 入射及收集光路均可配置双口电动切换。（可选）
应用场景
光学材料的能级及振动强弱信息探测
· 半导体材料的带隙探测；
· 无机光学材料的吸收特性研究；
· 贵金属纳米材料的表面等离激元共振特性研究；
· 光学材料的基础光谱表征。
反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统典型参数配置
测试光源： 光纤耦合卤素灯；自由空间卤素灯（可选）
支持光谱范围： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm
空间分辨率： ＜ 1 mm
电动位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
扫描精度： ＜ 1 mm，步进最小 0.04 mm
偏振控制： 电动
测量方式： 反射和透射
光路切换方式： 电动，软件控制
物镜组： 5X，10X，20X，50X，100X可见光物镜；反射式物镜，红外长焦物镜等可选
照明光源： 高显色LED面光源
光谱采集： 光纤光谱仪；光栅光谱仪（可选）
软件功能：移动视场，切换物镜，对焦，框选扫描区域均可用鼠标直接在图像显示窗口操作；电动功率调整；自动光路模式切换；自动化Mapping；自动化偏振Mapping；实时处理与显示数据。
13810146393
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