“卓立造，中国芯”——2023年度新品发布会精彩抢先看

发布人：发布时间：2022-12-05 文字：大中小

北京卓立汉光仪器有限公司将于2022年12月27日在上海举办“卓立造，中国芯”——2023年度新品发布会，届时将为大家解锁多款卓立汉光公司自主研发的新产品和解决方案，包括匠心打造的高精度“精工”系列光机/激光产品，微观时空分辨的飞秒瞬态吸收成像系统/显微荧光寿命成像系统/瞬态光电流与光电压分析系统，以及针对半导体行业和在线检测的解决方案。

精彩敬请期待。

“卓立造，中国芯”2023年度新品发布会会议日程
13:00-13:30		嘉宾入场
13:30-13:40	致欢迎辞		公司领导	北京卓立汉光仪器有限公司
13:40-13:50	嘉宾致辞		神秘嘉宾	南京大学
13:50-14:05	新品揭幕		刘沫
14:05-14:15	线上活动：红包雨+有奖问答
14:15-14:30	飞秒瞬态吸收成像技术进展		康斌	南京大学
14:30-14:45	Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统—看见载流子的运动		覃冰	北京卓立汉光仪器有限公司
14:45-15:00	高精度六轴并联机器人及电动旋转台介绍		杜勉珂	北京卓立汉光仪器有限公司
15:00-15:15	TPR系列气浮隔振光学平台		苗强	北京卓立汉光仪器有限公司
15:15-15:30	用于半导体精密调控纳米压电位移台		丛君状	多场低温科技(北京)有限公司
15:30-15:45	茶歇&线上活动（红包雨+有奖问答）
15:45-16:00	TPV/TPC—光电器件动力学测试方法介绍		张素侠	北京卓立汉光仪器有限公司
16:00-16:15	SPM系列半导体参数系列测试仪		覃冰	北京卓立汉光仪器有限公司
16:15-16:30	激光衰减及焦斑测试介绍		张瑞宝	北京卓立汉光仪器有限公司
16:30-16:40	线上活动：红包雨+有奖问答
16:40-16:55	远程拉曼及燃烧诊断系统介绍		张亮	北京卓立汉光仪器有限公司
16:55-17:10	显微荧光寿命成像系统—谱仪搭建，轻松Mapping		覃冰	北京卓立汉光仪器有限公司
17:10-17:20	共同期待 2024年度新品发布会		刘沫	北京卓立汉光仪器有限公司

发布会亮点抢先看

HXP系列六轴并联机器人：揭秘全自由度运动

高精度、高集成度、高效率的全自由度运动，适合于空间精密对位，微小器件加工和装配，光通信器件调芯，晶片检验等应用

纳米压电位移台：纳米至亚纳米量级的高精度运动控制

可选控制方式为线性，旋转，摆角，扫描。*小单步步长可达10nm，使用20kHz超声频段驱动，无刺耳运动噪声。全系产品均可提供超高真空兼容版本以及完全无磁版本以满足特殊工况要求。

TBR57电动旋转台：无惧工况复杂、高耐用性要求的自动化生产线

导向机构采用精密交叉滚柱轴环，负载能力强、耐用性好，可水平、竖直、倒置使用；独特调隙机构设计，有效较小背隙。高耐磨性、高硬度，内置零位传感器，使用方便。

TPR气浮隔振& DRN阻尼隔振光学平台: 为精密光学实验隔振护航

TPR气浮隔振平台，使用了三线摆+层流阻尼技术，对水平和竖直方向的震动有非常好的隔振效果，技术先进，性能极佳。5Hz隔振效率高达85%。

DRN阻尼隔振光学平台，采用 **的双频阻尼隔振机构配合低固有频率材料，使整体固有频率降低到9Hz以下，为精密光学实验提供稳定且隔振的实验平台。

焦斑分析仪&采样衰减模块: 无需繁琐光路调试，助力高精度微纳加工

焦斑分析仪采用高机械精度一体化设计，整体光轴偏移控制在0.5°以内，可校准的放大率，三种贴心安装方式，灵活可拆分的镜头和部件，满足客户个性化的需求。

采样衰减模块采用较高机械精度固定部分自由度，帮助客户提高光路的可重复性，更加容易调出两套比较一致的衰减系统。衰减值切换，模块组合、系统集成的便利性，可为客户节约大量成本、时间和精力。

Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统: 看见载流子的运动

集成像和动力学于一体，联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术，通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比，可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。高灵敏、高通量，可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。

显微荧光寿命成像系统：基于光谱仪搭建，Mapping更轻松

基于高灵敏度时间相关单光子计数TCSPC设计，联合科研级正置显微镜和光谱仪，FL Mapping和Lifetime Mapping 无缝切换。定位精度<1um，多类型激光器可选，内部光学元件可以支持多路激光耦合。

TPV/TPV分析系统: 光电器件动力学过程解析利器

光电测试系统针对光电器件动力学分析新开发的功能，可得到光生电流的响应时间，如上升/下降时间，瞬态光电流与瞬态光电压曲线。从而可以分析光电器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、载流子的扩散长度等。

SPM 系列半导体测试方案：专为半导体测试应用而生

SPM300系列半导体参数测试仪/SPM600系列半导体参数分析仪/SPM900系列少子寿命成像测试仪，面向半导体行业推出的专用机型，可进行载流子浓度表征、应力分析、杂质 /缺陷分析、载流子寿命分析、光电测试分析等

在线LIBS+PLIF解决方案：原位实时检测，快速定性定量

激光诱导击穿光谱（LIBS）利用脉冲激光激发出所含物质的对应谱线进行含量成分分析。其优点在于快速，简单，不受样品性状影响，并且既可以定性分析，又可以进一步进行定量分析。

片光源激光诱导荧光（PLIF）是利用将激光整形成厚约几毫米的片光源激发燃烧场获得燃烧场中化学成分的发射光谱，例如氧原子，氮原子，OH键，CH键等。通过在线监测软件，可以很直观的获得燃烧场的温度分布等参数信息。

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